导读
DNV GL来自于德国，是世界上最大的独立能源和可再生咨询公司，为世界上5500个太阳能项目做过咨询服务。目前DNV GL拥有自己的实验室与现场设施，并于2012年开发了光伏组件产品认证程序 (PQP)，用以支持太阳能产业。
▲ DNV GL PQP实验内容
1. 实验对象：
超过2500块组件（来自33家供应商）
2. 实验时间：
2013-2018
3. 实验内容：
4. 实验结果参考：
• 功率衰减率ΔPmax
• 不同测试之间的相关系数r
5. 主要结论提前看！
（2）湿热DH一定要做满3000小时才能得出结论；
（3）大胆预测到2020年，多晶组件效率将到达 18.7% （ 60 cell 305w），单晶组件为 19.63% （ 60 cell 320w ）；
（4）买组件还是要买大厂商的组件有保证。
还想看过程吗？让我们继续吧~
什么是相关系数r？ 实验结果-组件功率衰减率ΔPmax很好理解，代表的是组件在做完老化实验后衰减率=功率衰减数/初始功率，是组件老化性能的重要参数。 那什么是相关系数r呢？一般的，组件老化实验如需完整测试，需要33块组件。当你导入一种新材料，想要测试其可靠性，33块组件的测试成本太高。这时我们引入一个概念相关系数r – 测试不同老化试验的相关性，当然这需要很多数据支持。例如下图1，当我们把不同组件的老化实验TC600结果放在x轴，不同组件的老化实验DML+TC50+HF10放在Y轴，通过软件拟合得到的斜率，称之为相关系数，我们可以看到它们相关系数为0.64，相关性较大。 图1
那么我们可以先做老化实验TC600,若其通过，在费心思做实验DML + TC 50 + HF 10，如果其不通过，那可以表明该材料不可靠，其他实验也无需做了，采用替代实验方式来节省成本。
了解了以上背景，让我们来看看DNV GL 有哪些发现吧！
上图中TC600与HF20相关性0.74；TC600与DML+TC50+HF10相关性0.64；DML+TC50+HF10与HF20相关性0.63，热循环TC与湿冻HF实验有相关性较大，其他的如UV90与TC600相关性较小为0.14。那么我们做老化实验时，可以先只做 TC 或 HF ，观察组件衰减性能，以节省成本。但是如 DH , UV , PID 实验因与其他实验相关性低，则不可以节省实验步骤哦~！
如上图看出从DH从2000h到3000h后相关性低，2000h后说明功率衰减变大，所以DH一定要做满3000小时才能得出结论。而其他实验如TC,HF,UV,PID不会随着时间或者次数的增加而衰老性性变差，即TC200老化性能过关，则TC600老化性能也会过关，无需次次实验而增加成本。
如上图：随着时间增长，多晶，单晶，多晶perc，单晶perc功率在逐年增加，增长速度为0.75%/年。2018年多晶组件效率常规效率为17.2%，单晶组件为18.13%，那我们可以大胆预测到2020年，多晶组件效率将到达18.7% （ 60 cell 305w），单晶组件为 19.63% （60 cell 320w），让我们拭目以待吧。
一般的，电池片厂商在通过增加焊带多收集电流，减少焊带宽度增加受光面积，添加石墨烯增强导电性等方法增加功率，但是面积一定，是否还有技术瓶颈可以突破使组件功率更上一层楼呢？科学家还需努力才行。
还没找到一种材料可以延缓组件的衰老性能，组件的寿命还在25年左右。
上图我们可以看到：白色圆圈代表multi多晶组件与绿色圆圈代表mono单晶组件数据点，图上表明单晶组件老化性能较好，功率衰减在0~-2%之间，多晶组件组件衰减性能差，功率衰减在0~-8%之间,单晶在TC600实验中表现比多晶组件好。目前DNV GL没有足够的PERC数据（三角形数据）说明其比较可靠。
上图横坐标为33家供应商，纵坐标为各个实验的功率衰减。
以第一张图是各个供应商TC600实验结果，可以看出供应商编码1衰减小，供应商编码33衰减大，其他三种图也是散点图，衰减幅度跨度较大，所以组件品质主要还是由供应商决定的。
英文全文下载：。
本文摘录于DNV GL报告《Observations and trends from 4 years of extended-duration testing of PV modules》
原作者：Henry Hieslmair，Ryan Desharnais，
翻译：西娅
如有翻译不当之处，请指正。
原文始发于微信公众号（坎德拉学院）：DNV GL报告：组件老化实验之七大发现